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Détails des produits

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Gaufrette de carbure de silicium
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Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi)

Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi)

Nom De Marque: ZMSH
Numéro De Modèle: Plaquette SiC Epi
MOQ: 1
Prix: by case
Détails De L'emballage: Cartons personnalisés
Conditions De Paiement: T/T
Les informations détaillées
Lieu d'origine:
Chine
Capacité d'approvisionnement:
Par cas
Mettre en évidence:

Plaquette de carbure de silicium de 8 pouces

,

plaquette épitaxiale SiC

,

plaquette épi de carbure de silicium avec garantie

Description de produit

Aperçu du produit

Le wafer épitaxié au carbure de silicium (SiC) de 8 pouces est un matériau semi-conducteur haute performance conçu pour la prochaine génération d'électronique de puissance. Construit sur des substrats SiC de haute qualité de 8 pouces, la couche épitaxiée est cultivée à l'aide d'une technologie avancée de dépôt chimique en phase vapeur (CVD) pour obtenir une épaisseur précise, un contrôle du dopage et une qualité cristalline supérieure.

 

Comparés aux wafers de silicium traditionnels, les wafers épitaxiés SiC offrent des propriétés électriques, thermiques et mécaniques exceptionnelles, ce qui les rend idéaux pour les applications haute tension, haute fréquence et haute température.

 

Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi) 0     Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi) 1


Principe de fonctionnement

La couche épitaxiée de SiC est déposée sur un substrat SiC poli par un processus CVD à haute température. Pendant la croissance :

  • Les gaz contenant du silicium et du carbone réagissent à des températures élevées
  • Une couche de SiC monocristalline se forme en suivant le réseau du substrat
  • Des gaz dopants (type N ou type P) sont introduits pour contrôler les propriétés électriques

Cette couche épitaxiée sert de région active pour la fabrication des dispositifs, permettant un contrôle précis des performances du dispositif telles que la tension de claquage et la résistance à l'état passant.

 

Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi) 2

 


Caractéristiques clés

  • Grand diamètre (8 pouces / 200 mm): Prend en charge la fabrication à haut volume et la réduction des coûts
  • Faible densité de défauts: Minimise les micropores et les dislocations
  • Excellente uniformité d'épaisseur: Assure des performances de dispositif cohérentes
  • Contrôle précis du dopage: Prend en charge des caractéristiques électriques personnalisées
  • Haute conductivité thermique: Convient aux applications de haute puissance
  • Large bande interdite (~3,26 eV): Permet un fonctionnement à haute température et haute tension

 


Spécifications typiques

Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi) 3 

Article Spécification
Diamètre du wafer 8 pouces (200 mm)
Type de substrat 4H-SiC
Type de conductivité Type N / Semi-isolant
Épaisseur de l'épitaxie 5 – 100 µm (personnalisable)
Concentration de dopage 1E14 – 1E19 cm⁻³
Uniformité de l'épaisseur ≤ ±5%
Rugosité de surface Ra ≤ 0,5 nm
Densité de défauts Faible densité de micropores
Orientation 4° hors axe ou sur axe
 

 

 

 


Applications

Les wafers épitaxiés SiC de 8 pouces sont largement utilisés dans les dispositifs de puissance et RF avancés, notamment :

  • Véhicules électriques (VE): Onduleurs, chargeurs embarqués
  • Systèmes d'énergie renouvelable: Onduleurs solaires, convertisseurs d'énergie éolienne
  • Modules de puissance industriels: Entraînements de moteurs à haut rendement
  • Systèmes de charge rapide: Dispositifs de commutation haute fréquence
  • Appareils 5G et RF: Amplificateurs RF haute puissance

 Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi) 4     Plaquette épitaxielle en carbure de silicium de 8 pouces (plaquette SiC Epi) 5


Avantages par rapport au silicium

  • Champ électrique de claquage plus élevé (≈10× celui du silicium)
  • Pertes de commutation plus faibles
  • Température de fonctionnement plus élevée (>200°C)
  • Efficacité énergétique améliorée
  • Réduction de la taille du système et des besoins de refroidissement

 


Processus de fabrication

La production de wafers épitaxiés SiC de 8 pouces comprend :

  1. Préparation du substrat – Polissage et nettoyage de wafers SiC de haute pureté
  2. Croissance épitaxiale (CVD) – Dépôt contrôlé de la couche SiC
  3. Contrôle du dopage – Introduction précise des dopants
  4. Traitement de surface – Polissage CMP pour une surface ultra-lisse
  5. Inspection et tests – Vérification de l'épaisseur, des défauts et des propriétés électriques

 


FAQ

Q1 : Quelle est la différence entre un substrat SiC et un wafer épitaxié SiC ?

R : Le substrat est le matériau de base, tandis que la couche épitaxiée est la couche fonctionnelle où les dispositifs sont fabriqués.

 

Q2 : L'épaisseur de l'épitaxie et le dopage peuvent-ils être personnalisés ?

R : Oui, l'épaisseur et la concentration de dopage peuvent être adaptées aux exigences du dispositif.

 

Q3 : Pourquoi choisir des wafers SiC de 8 pouces ?

R : Une plus grande taille de wafer améliore l'efficacité de la production et réduit le coût par dispositif, prenant en charge la production de masse.