Nom De Marque: | ZMSH |
MOQ: | 5 |
Prix: | by case |
Détails De L'emballage: | custom cartons |
Conditions De Paiement: | T/T |
Introduction du produit des plaquettes 3C-SiC
Les plaquettes 3C-SiC, également connues sous le nom de plaquettes de carbure de silicium cubique, sont un membre clé de la famille des semi-conducteurs à large bande interdite. Avec leur structure cristalline cubique unique et leurs propriétés physiques et chimiques exceptionnelles, les plaquettes 3C-SiC sont largement utilisées dans l'électronique de puissance, les dispositifs à radiofréquence, les capteurs haute température, et plus encore. Comparé au silicium conventionnel et à d'autres polytypes de SiC tels que 4H-SiC et 6H-SiC, le 3C-SiC offre une mobilité électronique plus élevée et une constante de réseau plus proche de celle du silicium, ce qui permet une compatibilité de croissance épitaxiale supérieure et une réduction des coûts de fabrication.
Grâce à leur conductivité thermique élevée, leur large bande interdite et leur haute tension de claquage, les plaquettes 3C-SiC maintiennent des performances stables dans des conditions extrêmes telles que les températures élevées, les hautes tensions et les hautes fréquences, ce qui les rend idéales pour les dispositifs électroniques de nouvelle génération à haut rendement et à économie d'énergie.
Propriété des plaquettes 3C-SiC
Propriété |
Type P 4H-SiC, monocristal |
Type P 6H-SiC, monocristal |
Type N 3C-SiC, monocristal |
---|---|---|---|
Paramètres de réseau | a=3.082 Å c=10.092 Å |
a=3.09 Å c=15.084 Å |
a=4.349 Å |
Séquence d'empilement | ABCB | ACBABC | ABC |
Dureté Mohs | ≈9.2 | ≈9.2 | ≈9.2 |
Densité | 3.23 g/cm³ | 3.0 g/cm³ | 2.36 g/cm³ |
Coefficient de dilatation thermique | ⊥ Axe C : 4.3×10⁻⁶/K ∥ Axe C : 4.7×10⁻⁶/K |
⊥ Axe C : 4.3×10⁻⁶/K ∥ Axe C : 4.7×10⁻⁶/K |
3.8×10⁻⁶/K |
Indice de réfraction @750nm | no=2.621 ne=2.671 |
no=2.612 ne=2.651 |
n=2.615 |
Constante diélectrique | ~9.66 | ~9.66 | ~9.66 |
Conductivité thermique @298K | 3-5 W/(cm·K) | 3-5 W/(cm·K) | 3-5 W/(cm·K) |
Bande interdite | 3.26 eV | 3.02 eV | 2.36 eV |
Champ électrique de claquage | 2-5×10⁶ V/cm | 2-5×10⁶ V/cm | 2-5×10⁶ V/cm |
Vitesse de dérive de saturation | 2.0×10⁵ m/s | 2.0×10⁵ m/s | 2.7×10⁷ m/s |
Préparation du substrat
Les plaquettes 3C-SiC sont généralement cultivées sur des substrats de silicium (Si) ou de carbure de silicium (SiC). Les substrats de silicium offrent des avantages en termes de coûts, mais présentent des défis en raison des désaccords de réseau et de dilatation thermique qui doivent être gérés avec soin pour minimiser les défauts. Les substrats de SiC offrent une meilleure adaptation du réseau, ce qui se traduit par des couches épitaxiales de meilleure qualité.
Croissance épitaxiale par dépôt chimique en phase vapeur (CVD)
Des films monocristallins 3C-SiC de haute qualité sont cultivés sur des substrats par dépôt chimique en phase vapeur. Les gaz réactifs tels que le méthane (CH4) et le silane (SiH4) ou les chlorosilanes (SiCl4) réagissent à des températures élevées (~1300°C) pour former le cristal 3C-SiC. Un contrôle précis des débits de gaz, de la température, de la pression et du temps de croissance assure l'intégrité cristalline et l'uniformité de l'épaisseur de la couche épitaxiale.
Contrôle des défauts et gestion des contraintes
En raison du désaccord de réseau entre le substrat de Si et le 3C-SiC, des défauts tels que des dislocations et des défauts d'empilement peuvent se former pendant la croissance. L'optimisation des paramètres de croissance et l'utilisation de couches tampons permettent de réduire la densité des défauts et d'améliorer la qualité des plaquettes.
Découpe et polissage des plaquettes
Après la croissance épitaxiale, le matériau est découpé en tailles de plaquettes standard. Plusieurs étapes de meulage et de polissage suivent, obtenant une douceur et une planéité de qualité industrielle avec une rugosité de surface souvent inférieure à l'échelle nanométrique, adaptée à la fabrication de semi-conducteurs.
Dopage et réglage des propriétés électriques
Un dopage de type N ou de type P est introduit pendant la croissance en ajustant les concentrations de gaz dopants comme l'azote ou le bore, adaptant les propriétés électriques des plaquettes en fonction des exigences de conception des dispositifs. La concentration et l'uniformité précises du dopage sont essentielles pour les performances des dispositifs.
Structure cristalline
Le 3C-SiC a une structure cristalline cubique (groupe spatial F43m) similaire au silicium, ce qui facilite la croissance épitaxiale sur des substrats de silicium et réduit les défauts induits par le désaccord de réseau. Sa constante de réseau est d'environ 4,36 Å.
Semi-conducteur à large bande interdite
Avec une bande interdite d'environ 2,3 eV, le 3C-SiC surpasse le silicium (1,12 eV), ce qui permet un fonctionnement à des températures et des tensions plus élevées sans courant de fuite causé par les porteurs excités thermiquement, améliorant considérablement la résistance à la chaleur et l'endurance à la tension des dispositifs.
Conductivité thermique et stabilité élevées
Le carbure de silicium présente une conductivité thermique proche de 490 W/m·K, ce qui est significativement supérieur au silicium, permettant une dissipation rapide de la chaleur des dispositifs, réduisant les contraintes thermiques et améliorant la longévité des dispositifs dans les applications à haute puissance.
Haute mobilité des porteurs
Le 3C-SiC présente des mobilités électroniques d'environ 800 cm²/V·s, supérieures à celles du 4H-SiC, ce qui permet des vitesses de commutation plus rapides et une meilleure réponse en fréquence pour les dispositifs RF et électroniques à haute vitesse.
Résistance à la corrosion et résistance mécanique
Le matériau est très résistant à la corrosion chimique et mécaniquement robuste, adapté aux environnements industriels difficiles et aux processus de microfabrication précis.
Les plaquettes 3C-SiC sont largement utilisées dans divers domaines électroniques et optoélectroniques avancés en raison de leurs propriétés supérieures des matériaux :
Électronique de puissance
Utilisé dans les MOSFET de puissance à haut rendement, les diodes Schottky et les transistors bipolaires à grille isolée (IGBT), le 3C-SiC permet aux dispositifs de fonctionner à des tensions, des températures et des vitesses de commutation plus élevées avec des pertes d'énergie réduites.
Dispositifs à radiofréquence (RF) et à micro-ondes
Idéal pour les amplificateurs haute fréquence et les dispositifs de puissance dans les stations de base de communication 5G, les systèmes radar et les communications par satellite, bénéficiant d'une mobilité électronique élevée et d'une stabilité thermique.
Capteurs haute température et MEMS
Adapté aux systèmes micro-électromécaniques (MEMS) et aux capteurs qui doivent fonctionner de manière fiable dans des environnements de température extrême et chimiques agressifs, tels que la surveillance des moteurs automobiles et l'instrumentation aérospatiale.
Optoélectronique
Utilisé dans les LED ultraviolettes (UV) et les diodes laser, tirant parti de la transparence optique et de la résistance aux radiations du 3C-SiC.
Véhicules électriques et énergie renouvelable
Prend en charge les modules d'onduleur et les convertisseurs de puissance haute performance, améliorant l'efficacité et la fiabilité des véhicules électriques (VE) et des systèmes d'énergie renouvelable.
Q1 : Quel est le principal avantage des plaquettes 3C-SiC par rapport aux plaquettes de silicium traditionnelles ?
R1 : Le 3C-SiC a une bande interdite plus large (environ 2,3 eV) que le silicium (1,12 eV), ce qui permet aux dispositifs de fonctionner à des températures, des tensions et des fréquences plus élevées avec une meilleure efficacité et une meilleure stabilité thermique.
Q2 : Comment le 3C-SiC se compare-t-il aux autres polytypes de SiC comme le 4H-SiC et le 6H-SiC ?
R2 : Le 3C-SiC offre une meilleure adaptation du réseau avec les substrats de silicium et une mobilité électronique plus élevée, ce qui est bénéfique pour les dispositifs à haute vitesse et l'intégration avec la technologie du silicium existante. Cependant, le 4H-SiC est plus mature en termes de disponibilité commerciale et a une bande interdite plus large (~3,26 eV).
Q3 : Quelles sont les tailles de plaquettes disponibles pour le 3C-SiC ?
R3 : Les tailles courantes incluent les plaquettes de 2 pouces, 3 pouces et 4 pouces. Des tailles personnalisées peuvent être disponibles en fonction des capacités de production.
Q4 : Les plaquettes 3C-SiC peuvent-elles être dopées pour différentes propriétés électriques ?
R4 : Oui, les plaquettes 3C-SiC peuvent être dopées avec des dopants de type N ou de type P pendant la croissance pour obtenir la conductivité et les caractéristiques de dispositif souhaitées.
Q5 : Quelles sont les applications typiques des plaquettes 3C-SiC ?
R5 : Elles sont utilisées dans l'électronique de puissance, les dispositifs RF, les capteurs haute température, les MEMS, l'optoélectronique UV et les modules d'alimentation pour véhicules électriques.
Produits connexes
ZMSH est spécialisée dans le développement, la production et la vente de haute technologie de verre optique spécial et de nouveaux matériaux cristallins. Nos produits servent l'électronique optique, l'électronique grand public et l'armée. Nous proposons des composants optiques en saphir, des protections d'objectifs de téléphones portables, des céramiques, LT, carbure de silicium SIC, quartz et des plaquettes de cristaux semi-conducteurs. Grâce à une expertise qualifiée et à des équipements de pointe, nous excellons dans le traitement de produits non standard, dans le but d'être une entreprise de haute technologie de matériaux optoélectroniques de premier plan.