| Nom De Marque: | ZMKJ |
| Numéro De Modèle: | AlN-saphir 2inch |
| MOQ: | 5pcs |
| Prix: | by case |
| Détails De L'emballage: | conteneur simple de gaufrette dans la chambre de nettoyage |
| Conditions De Paiement: | T/T, Western Union, Paypal |
le saphir de 2inch 4iinch 6Inch a basé le film d'AlN de calibres d'AlN sur la gaufrette de saphir de fenêtre de saphir de substrat de saphir
D'autres spécifications du relaterd 4INCH GaN Template
| Substrats de ₃ du ₂ O d'Al de GaN/(4") 4inch | |||
| Article | Non dopé | de type n |
Haut-enduit de type n |
| Taille (millimètres) | Φ100.0±0.5 (4") | ||
| Structure de substrat | GaN sur le saphir (0001) | ||
| SurfaceFinished | (Norme : Option de SSP : DSP) | ||
| Épaisseur (μm) | 4.5±0.5 ; 20±2 ; Adapté aux besoins du client | ||
| Type de conduction | Non dopé | de type n | de type n Haut-enduit |
| Résistivité (Ω·cm) (300K) | ≤0.5 | ≤0.05 | ≤0.01 |
| GaN Thickness Uniformity |
≤±10% (4") | ||
| Densité de dislocation (cm2) |
≤5×108 | ||
| Superficie utilisable | >90% | ||
| Paquet | Emballé dans un environnement de pièce propre de la classe 100. | ||
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| Structure cristalline |
Wurtzite |
| Constante de trellis (Å) | a=3.112, c=4.982 |
| Conduction à bande | Bandgap direct |
| Densité (g/cm3) | 3,23 |
| Microdureté extérieure (essai de Knoop) | 800 |
| Point de fusion (℃) | 2750 (barre 10-100 en N2) |
| Conduction thermique (W/m·K) | 320 |
| Énergie d'espace de bande (eV) | 6,28 |
| Mobilité des électrons (V·s/cm2) | 1100 |
| Champ électrique de panne (MV/cm) | 11,7 |
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